洛斯阿拉莫斯实验室：利用中子束模拟百年宇宙辐射测试芯片

洛斯阿拉莫斯国家实验室的“ICE House”设施通过中子轰击，模拟电子设备在高空飞行数十年所受的宇宙辐射。一小时测试即可等同于百年的辐射暴露。随着芯片制程缩小和晶体管数量激增至数千亿，电子设备对辐射日益敏感，易发生位翻转或闩锁效应导致故障。这一测试对提升航空航天及高可靠性芯片的抗辐射能力至关重要，目前该设施供不应求，正计划扩建并引入质子测试。